Yandex
Каталог
Результаты поиска(0) Все товары
    Категории
      Результаты поиска(0) Все товары
        Категории
          4200A-SCS-PK3 — система измерения параметров полупроводников (комплект для измерения ВАХ и CV-метрии мощных устройств)
          4200A-SCS-PK3 — система измерения параметров полупроводников (комплект для измерения ВАХ и CV-метрии мощных устройств)

          4200A-SCS-PK3 — система измерения параметров полупроводников (комплект для измерения ВАХ и CV-метрии мощных устройств)

          В наличии Код: P-1062770
          от 1 000 000 сум / шт.
          Описание

          Описание системы измерения параметров полупроводников (комплект для измерения ВАХ и CV-метрии мощных устройств) 4200A-SCS-PK3:

          Комплект для измерения ВАХ и CV-метрии мощных устройств 4200A-SCS-PK3. В состав комплекта входят: 4200A-SCS (1 шт) - базовый блок параметрического анализатора; 4200-SMU (2 шт) - измерительный модуль средней мощности; 4210-SMU (2 шт) - измерительный модуль большой мощности; 4200-PA (2 шт) - токовый предусилитель; 4210-CVU (1 шт) - опция CV-метрии; 8101-PIV (1 шт) - оснастка для подключения тестируемых компонентов.

          Система 4200A-SCS – универсальная система для измерения вольт-амперных характеристик I-V на постоянном токе, С-V метрии (снятие вольт-фарадных характеристик) на переменном токе и в импульсном режиме для полупроводниковых приборов и тестовых структур на пластине в полупроводниковом производстве.

          Система имеет модульную многоканальную архитектуру и настраиваемую конфигурацию, поддерживая до 9 измерительных и дополнительных модулей.

          Система измерения параметров полупроводников 4200A-SCS - это комплекс аппаратных и программных средств:

          4200A-poln.jpg

          Назначение системы измерения параметров полупроводников (комплект для измерения ВАХ и CV-метрии мощных устройств) 4200A-SCS-PK3:

          • Измерение ВАХ в диапазоне токов 0,1 фА до 1 А и напряжения от 1 мкВ до 210 В;
          • Измерения на переменном токе (C-V, C-f, C-t) в диапазоне до 420 В с разрешением 1 мВ, в частотном диапазоне от 1 кГц до 10 МГц;
          • Ультрабыстрое и импульсное тестирование с временным разрешением 5 нс;
          • Автоматическое переключение между режимом измерения ВАХ и CV-метрией.

          Особенности системы измерения параметров полупроводников (комплект для измерения ВАХ и CV-метрии мощных устройств) 4200A-SCS-PK3:

          • Встроенная рабочая станция на базе ОС Windows 7;
          • Сенсорный 15,6" ЖК монитор высокого разрешения (1920x1080);
          • Шасси поддерживает до 9 измерительных модулей одновременно;
          • Опционально предусилитель малых токов для модулей средней и высокой мощности;
          • Измерение вольт-фарадных (C-V) характеристик с дифференциальным смещением ±60 В и в диапазоне частот от 1 кГц до 10 МГц, а также в квазистатическом режиме и ультранизкочастотную CV-метрию;
          • Опциональное измерение высоковольтных вольт-фарадных (С-V) характеристик в диапазоне дифференциального напряжения до 400 В;
          • Интерактивная интуитивно понятная пользовательская среда тестирования (Clarius) позволяет быстро решать задачи по управлению процессом измерения и тестирования;
          • Библиотека до 450 стандартных тестов;
          • Широкий набор интерфейсов и портов: USB, SVGA, Printer, GPIB, Ethernet, mouse, Keyboard.

          Измерительные модули:

          Измерительные модули предназначены для снятия ВАХ на постоянном токе в четырехквадрантной области (измерение/генерация). Они устанавливаются в слоты базового блока системы 4200-SCS. На одно шасси 4200-SCS возможно установить до 9 измерительных модулей 4210-SMU или 4200-SMU.

          4200A-rear-.jpg

          Модули средней мощности 4200-SMU:

          • 7 токовых диапазонов для генерации и измерения:
            от 100 нА (полная шкала) до 100 мA (полная шкала).
            Разрешение:
            от 100 фA до 100 нA – в режиме измерения;
            от 5 пA до 5 мкА - в режиме генерации.
          • 4 вольтовых диапазона для генерации и измерения:
            от 200 мВ до 200 В.
            Разрешение:
            от 1 мкВ до 200 мкВ - в режиме измерения;
            от 5 мкВ до 5 мВ - в режиме генерации.
            Максимальное выходное напряжение:
            21 В при токе 100 мА;
            210 В при токе 10 мА.
          • Опциональный токовый предусилитель 4200-PA расширяет токовые диапазоны дополнительно:
            Диапазоны : 1 пА, 10 пА, 100 пА, 1 нА, 10 нА.

          Модули большой мощности 4210-SMU:

          • 9 токовых диапазонов для генерации и измерения:
            от 100 нА (полная шкала) до 1 A (полная шкала).
            Разрешение:
            от 100 фA до 1 мкA – в режиме измерения;
            от 5 пA до 50 мкА - в режиме генерации.
          • 4 вольтовых диапазона для генерации и измерения:
            от 200 мВ до 200 В.
            Разрешение:
            от 1 мкВ до 200 мкВ - в режиме измерения;
            от 5 мкВ до 5 мВ - в режиме генерации.
            Максимальное выходное напряжение:
            21 В при токе 1 А;
            210 В при токе 10 мА.
          • Опциональный токовый предусилитель 4200-PA расширяет токовые диапазоны дополнительно:
            Диапазоны : 1 пА, 10 пА, 100 пА, 1 нА, 10 нА.

          Токовый предусилитель 4200-PA:

          Расширяет токовые диапазоны дополнительно:
          1 пА, 10 пА, 100 пА, 1 нА, 10 нА.

          4200-PA.jpg

          CV- метрия. Измерение вольт-фарадных характеристик:

          С-V измерения в системе 4200- SCS осуществляются с помощью:

          • встраиваемой опции CV-метрии 4210-CVU;
          • опции расширения для проведения мощной CV-метрии 4200-CVU-POWER;
          • квазистатическим методом CV-метрии при помощи модулей 4200-SMU или 4210-SMU
            с опцией 4200-PA;
          • новым патентованным методом ультранизкочастотной CV-метрии (10 мГц...10 Гц) при помощи модулей 4200-SMU или 4210-SMU с опцией 4200-PA.

          Опция CV-метрии 4210-CVU может быть установлена в систему которая уже эксплуатируется или заказана при первоначальной комплектации системы.

          Встроенный C-V модуль обеспечивает C-V измерения с параметрами:

          • тестовый сигнал:
            частотный диапазон от 1 кГц до 10 МГц;
            разрешение тестового сигнала 1 кГц, 10 кГц, 100 кГц, 1 МГц в зависимости от диапазона;
            точность частоты ±0,1%;
            выходной уровень 10 мВ...100 мВ;
            разрешение 1 мВскз;
            точность±(10%+1 мВскз)
          • внутренний источник постоянного смещения:
            диапазон ±30 В (60 В диф.);
            разрешение 1 мВ;
            точность±(0,5%+5 мВ);
            максимальный ток 10 мА;
          • режим свипирования:
            параметры свипирования: постоянное смещение, частота, переменное напряжение;
            закон: линейный,пользовательский;
            направление: вверх, вниз;
            количество точек: 4096;
          • измеряемые параметры: Cp-G, Cp-D, Cs-Rs, Cs-D, R-jX, Z-Theta;
          • выходные интерфейсы: 4 SMA (female).

          Высокоскоростная цифровая архитектура позволяет строить графики С-V в режиме реального времени.

          Показать все

          К данному товару отзывов пока нет.

          Похожие товары продавца
          4200A-SCS-PK3 — система измерения параметров полупроводников (комплект для измерения ВАХ и CV-метрии мощных устройств)
          В наличии Код: P-1062770
          от 1 000 000 сум / шт.
          Продавец
          3.75
          CONTROL ПРИБОР Ташкент, Алмазарский район
          Проверено

          Информация о данном продавце была проверена через систему Soliq.uz и подтверждена как достоверная

          Подробнее
          Отзывы компании
          Смотреть все
          Способы доставки
          Подробно
          • Бесплатная доставка
          • Стандартная доставка
          Еще
          Glotr-b Glotr-b m1
          Похожие товары продавца